CST 系列沖擊試樣缺口投影儀是利用光學(xué)投影方法將被測(cè)的沖擊試樣 V 或 U 型缺口輪廓放大投射到投影屏上，與投影屏上沖擊試樣 V 和 U 型缺口標(biāo)準(zhǔn)樣板圖比對(duì)，以確定被檢測(cè)的沖擊試樣缺口加工是否合格，其優(yōu)點(diǎn)是操作簡(jiǎn)便，檢查對(duì)比直觀，效率高。
